تم بناء أول نموذج أولي لجهاز مطيافية انبعاث الإلكترونات والفوتونات بالأشعة السينية (XPS) في البلاد.
وبدعم من مقر تطوير اقتصاد المعرفة في مجالات الكم والليزر والفوتونيات، تم تصميم وبناء نموذج أولي لنظام مطيافية انبعاث الإلكترونات والفوتونات بالأشعة السينية (XPS) المتقدم في جامعة طهران، وذلك لأول مرة في البلاد.
ووفقًا لمركز الاتصالات والمعلومات التابع لنائب رئيس الجمهورية للعلوم والتكنولوجيا واقتصاد المعرفة، فإن التقدم العلمي في مجال الإلكترونيات والمواد المتقدمة يعتمد بشكل مباشر على وجود أدوات دقيقة لكشف خصائصها الفيزيائية والكيميائية. واليوم، يلعب تجهيز المختبرات ومراكز الأبحاث بأنظمة تحليل متنوعة دورًا حاسمًا في جودة البحث العلمي. في غضون ذلك، يحتل نظام مطيافية انبعاث الإلكترونات والفوتونات بالأشعة السينية (XPS)، الذي يُخلط أحيانًا مع طريقة مطيافية حيود الطاقة (EDS)، مكانةً فريدةً وحيويةً في تقييم المواد ثنائية الأبعاد وأشباه الموصلات.
على عكس طريقة EDS، التي تُظهر فقط وجود العناصر المختلفة في المادة، فإن نظام XPS قادر على الكشف عن طبقات أكثر تفصيلًا لطبيعة المادة. لا يقتصر دور هذا الجهاز على تحديد العناصر المكونة فحسب، بل يفحص أيضًا الروابط الكيميائية وكيفية ترابط هذه العناصر. وقد جعلت هذه القدرة من XPS أداةً لا غنى عنها للباحثين.
الأهمية الاستراتيجية لنظام XPS في الصناعة والبحث العلمي
تتجاوز تطبيقات هذا النظام كليات الكيمياء، وتلعب دورًا بالغ الأهمية في مراكز الأبحاث المتخصصة في العلوم الجزيئية، وأشباه الموصلات، وحتى في تطوير أجيال جديدة من البطاريات وعناصر تخزين الطاقة. ووفقًا للخبراء، يُمكن اعتبار هذا النظام بوابةً إلى عالم تحليل المواد، الذي امتد تأثيره إلى مجالات واسعة من العلوم والتكنولوجيا.
من خلال بناء نموذج أولي لهذا النظام في جامعة طهران، خطت المقرات خطوة كبيرة نحو الاكتفاء الذاتي في توفير معدات المختبرات المتقدمة وتقليل الاعتماد على الدول الأجنبية.
